聖地牙哥--(美國商業資訊)--Filmetrics已宣佈在網路上公開用於測量薄膜厚度的最完整的折射指數值資料庫並提供免費的折射指數測量服務。如果每種被測量的材料沒有精確的折射指數值，則以光學為基礎的厚度測量是不準確的，甚至無法測量。

新資料庫和測量服務具有廣泛的應用範圍，其中包括在半導體、太陽能、顯示器和生物醫學等許多領域。Filmetrics公司總裁Scott Chalmers博士指出：「第一周內，我們的資料庫平均每天線上造訪量超過200人次。這顯示許多人在工作中需要這些資料。」

Filmetrics儀器透過使用白色光照亮薄膜並測量薄膜反射的光譜來確定薄膜厚度。波長範圍在200-1700奈米之間。收集到光譜後，Filmetrics軟體對其進行分析，然後確定厚度、光學常數及其他使用者選用參數。

網址：http://www.filmetrics.com/refractive-index-database

關於Filmetrics

憑藉多年薄膜厚度測量的經驗和遍佈全球的技術支援中心，Filmetrics提供了簡單易用的儀器和無可比擬的支援。總部位於加州聖地牙哥，Filmetrics擁有全系列薄膜厚度測量系統，並不斷開發更有效的薄膜測量新產品和技術。Filmetrics成立於1995年，並迅速奠定了桌上型薄膜測量產業的領導地位。

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聯絡方式：

Filmetrics, Inc.

Scott Chalmers博士, +1-858-573-9300

chalmers@filmetrics.com

http://www.filmetrics.com