麻薩諸塞州哈德遜--(美國商業資訊)--Test Devices, Inc.宣佈推出新的光學應變測量服務，將其測量技術應用到高速旋轉零件上。
Test Devices的客戶現在可以在旋轉測試期間擷取整個零件的應變資料。光學應變測量服務可以同時測量和記錄成千上萬個位置的表面應變。所採集的資料可以作為獨立的資源，或者為傳統測量提供補充。
Test Devices董事長兼所有人H. Eric Sonnichsen表示：「光學應變測量在旋轉測試中的新應用受益於運算能力和影像分析技術所取得的進展。光學應變測量過去侷限於靜態零件，然而現在我們可以應用它來獲得壓縮機和渦輪機轉子等高速零件的非接觸式全應變場影像。Test Devices正不斷改進，旨在使光學應變測量成為經濟實惠的業界解決方案，並廣泛應用於一系列高速測試和生產應用。」
光學應變測量獲得的高價值資料非常適合用於評估渦輪機葉片和葉輪等小型或複雜零組件的特徵。
光學應變測量為非接觸式技術，無需採用像傳統測試中連接應變計和引線那樣昂貴、耗時的流程。光學應變測量過程中獲得的資料受到影響的可能性更低，因為不存在應變計分離因素。
該新技術具有更廣泛的適用性。只要提供檢視埠，即可將光學應變測量設備安裝於遠離待測物體的位置或者測試室之外。這樣可以在極端條件下於測試期間進行光學應變測量，包括傳統測試中可能損壞應變計的高溫和腐蝕性環境。
光學應變測量可減少傳統應變測量技術中不可避免的結果猜測。利用光學系統生成的應變圖便於更豐富、更全面地瞭解零組件的任何變形。
關於TEST DEVICES
30多年來，Test Devices, Inc.一直是世界一流的研發測試、生產測試和測試設備提供商。Test Devices為開發和製造噴射引擎、氣渦輪、醫用離心機、機床、工業壓縮機和高速電動機等裝置的高速旋轉零件的企業提供先進的旋轉測試服務。
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