JEOL推出InTouchScope™新型掃描電子顯微鏡JSM-IT510系列

JEOL LTD.

JEOL推出InTouchScope™新型掃描電子顯微鏡JSM-IT510系列

- 便於獲取所有樣本類型的資料 -

2021-11-09 14:36

高科技

東京--(美國商業資訊)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951)（總裁兼營運長：Izumi Oi）於2021年11月宣布開發並推出新型掃描電子顯微鏡(SEM)——JSM-IT510系列。

此新聞稿包含多媒體內容。完整新聞稿可在以下網址查閱：https://www.businesswire.com/news/home/20211107005023/en/

產品開發背景

掃描電子顯微鏡被廣泛用於奈米技術、金屬、半導體、陶瓷、醫學和生物學等各種領域。此外，SEM的應用範圍正在不斷擴大，不僅涉及基礎研究，還涵蓋製造現場的品質控制。因此，對更快、更輕鬆地取得SEM影像和分析結果資料的需求有所增加，例如能量色散X射線光譜(EDS)。

為了滿足這些需求並提高產量，我們開發出JSM-IT510系列，該系列進一步提升了我們備受青睞的InTouchScope™的可操作性。憑藉新增的Simple SEM（簡便SEM）功能，您現在可以將日常工作（重複性操作）「交給」儀器。

主要特性

新型Simple SEM功能
Simple SEM功能使使用者能夠方便地選擇SEM影像的擷取條件和視野，然後自動擷取SEM影像。日常工作可以更有效地完成。
新型「低真空混合二次電子探測器(LHSED)」
這種新型探測器可收集電子和光子訊號，即使在低真空條件下也能提供具有高訊號雜訊比和增強地形資訊的影像。
整合掃描電子顯微鏡(SEM)和能量色散X射線光譜儀(EDS)系統。
SEM和EDS的整合得到了進一步發展，Live Map（即時地圖）功能可以即時顯示觀測視野的元素分布圖。
新的「即時3D」功能
當進行SEM觀察以獲得非均勻性和深度資訊時，可以現場建構3D影像。
即時分析功能
嵌入式EDS系統可在影像觀測期間顯示即時EDS光譜，以實現高效率的元素分析。
新的階段導航系統LS功能
新的階段導航系統LS可以獲得四倍於傳統型號(200 mm x 200 mm)的區域光學影像。該功能使使用者能夠取得觀測樣本的光學影像，並透過簡單點選光學影像移動到所需的觀測區域。
Zeromag
使用我們的Zeromag功能，樣本導航比以往任何時候都更簡單。您可以使用光學影像或支架圖形定位影像區域或指定多個視野上的分析位置。
顯示特徵X射線產生深度
有助於快速瞭解樣本的分析深度（參考）。
SMILE VIEW™實驗室，能夠對影像和分析資料進行綜合管理。
便於在短時間內產生從收集的SEM影像到元素分析結果的所有資料報告。