台湾台北--(美国商业资讯)--电子组装和半导体制程设备的智能检测和感应解决方案全球领导者CyberOptics® Corporation (NASDAQ:CYBE)，将于2014年9月3-5日在台北世界贸易中心(TWC)南港展览馆举办的SEMICON Taiwan国际半导体展426和672号展台上展示该公司用于反应室间隙测量、水平测量、晶片切换校准、振动和空气颗粒测量的无线测量设备。

为了满足市场对150mm半导体、砷化镓(GaAs)、LED和平板显示器生产厂的空气颗粒测量的需求，CyberOptics还将展示新的WaferSense空气颗粒传感器APS2 150C，该传感器是其采用150mm晶片外观的APS系列的最新产品。新的APS2 150C整合了先进技术，颗粒灵敏度提高了60%，每小时计数错误小于10个。

CyberOptics销售总监Ferris Chen表示：“CyberOptics在提升设备安装、正常运行时间和长期良率的同时，还一如既往地帮助客户超越制造质量标准和生产标准。半导体晶圆厂和原始设备制造商(OEM)都重视领先业界的无线空气颗粒传感器的准确度、效率和精度。将颗粒灵敏度进一步提升60%，显示我们致力于提升技术，在省时和节省费用方面为客户提供更多价值。”

有了APS技术，设备工程师可以通过无线方式在半导体加工设备和自动化材料处理系统中实时快速监控、识别和清除空气颗粒。WaferSense®和ReticleSense™空气颗粒传感器使设备工程师能够缩短设备认证、投产和维护周期，同时减少开支。与传统的表面扫描晶片法相比，采用WaferSense APS的客户仅需一半的人力，就节约了88%的时间，降低了高达95%的成本，产量提高达20倍。这些先进技术能力使颗粒灵敏度得以提高，从而进一步扩大这些关键客户的利益。

CyberOptics将展示行业领先的全套无线WaferSense测量设备，包括空气颗粒传感器(APS)、自动振动系统(AVS)、自动水平测量系统(ALS)、自动校准系统(ATS)和自动间隙测量系统(AGS)。最近推出的ReticleSense空气颗粒传感器(APSR)测量设备也将一并展出。

关于WaferSense系列

WaferSense测量产品组合包括自动水平测量系统(ALS)、自动间隙测量系统(AGS)、自动振动测量系统(AVS)、自动校准系统(ATS)和空气颗粒传感器(APS)，如今均提供200mm、300mm和450mm晶片尺寸。此外，APS和ALS都提供150mm尺寸。ReticleSense空气颗粒传感器(APSR)和ReticleSense自动水平测量系统(ALSR)产品采用十字线外观。

如需了解关于CyberOptics全系列解决方案的更多信息，请访问公司官网 www.cyberoptics.com。公司还专门针对亚太地区的需求而推出了中文网站 http://zh-cn.cyberoptics.com。

关于CyberOptics

CyberOptics Corporation成立于1984年，是一家领先的传感器和检测系统供应商，为全球电子组装和半导体资本设备市场提供能够提升制程良率和处理量的解决方案。我们的产品部署在制造采用表面贴装技术的电路和半导体制程设备的产品线上。通过内部开发和收购，CyberOptics正在从战略上将自身定位成为一家高精度3D传感器的全球领导者。CyberOptics总部位于明尼苏达明尼阿波利斯，通过在北美、亚洲和欧洲的部门开展全球运营。

有关该公司预期业绩的陈述为前瞻性陈述，因此会受到风险和不确定性的影响，包括但不仅限于：全球SMT和半导体资本设备产业的市场条件；该公司产品销售尤其是其SMT系统所面临的不断加剧的价格竞争和价格压力；来自该公司OEM客户的订单水平；满足客户订单要求所需的零部件供应情况；预期的产品开发挑战；全球事件对该公司销售的影响，其中多数来自国外客户；竞争对手推出的新产品和定价情况；该公司在2014年的收入和亏损情况；能否成功把握我们的3D技术计划机会；关于LDI的预期值及其对我们的业务的影响；与LDI相关的整合风险，以及在该公司向美国证券交易委员会提交的文件中所规定的其他因素。

所有产品名称属于相关公司的商标。

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联系方式：

Stone Arch Strategies（代表CyberOptics Corporation）
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