日本横滨--(美国商业资讯)--日本半导体技术学术研究中心（简称"STARC"）与Atrenta Inc.今天宣布，双方合作开发一种电子设计自动化(EDA)工具质量管理体系。该系统基于STARC提供的质量评价数据库，并且拓展了对Atrenta的SpyGlass®寄存器传输级(RTL)平台正在进行的质量监测。

作为此次合作的一部分，STARC为Atrenta提供了回归测试规格和大量的设计测试案例。Atrenta随后将这些测试整合进他们的SpyGlass平台回归测试套件，从而可实现对各版本SpyGlass平台的质量和生产准备就绪的详细测试。Atrenta会为STARC提供一份质量评价报告，其中包括回归测试结果、发现的漏洞的类型以及在目标版本之前实施的决议。

STARC副总裁兼总经理Nobuyuki Nishiguchi表示："在过去一年半的时间里，我们一直与Atrenta合作实施这项计划。SpyGlass系列的产品质量使得我们能够取得显著进步。通过此次合作，STARC能够更轻松地为我们的企业客户提供领先的前端设计方法。我们的企业客户如今能够非常有效地部署新版SpyGlass。"

Atrenta营销部副总裁Mike Gianfagna说："质量数据库是实施改良质量程序的一种有效方法，因为它获得了STARC所有客户的授权，并且基于现实设计问题而开发。通过客户测试案例获取计划，我们不断改进我们的软件回归套件，而此次与STARC的合作是一次重要的补充。通过此次合作，我们可以加快向推进Early Design Closure^® 的STARC客户推出优质产品。"

Atrenta与STARC打算将该计划拓展至其它产品系列，以推动产品质量的持续改善，并为STARC成员企业降低采用和部署成本。

关于STARC

 日本半导体技术学术研究中心(STARC)是由日本主要半导体公司于1995年12月共同创建的一个研究联盟。其使命是通过开发领先的片上系统(SoC)设计技术来推动日本半导体行业的发展。

欲了解详情，请访问：http://www.starc.jp/index-e.html。

关于Atrenta

 Atrenta是领先的Early Design Closure®解决方案提供商，这些解决方案旨在通过集成电路设计流程从根本上提高设计效率。客户可以通过Atrenta工具和方法来捕获设计意图、探索各种实施选项、验证RTL以及在早期对设计进行优化，从而可以避免昂贵且耗时的复杂实施。该公司拥有150多位客户，其中包括全球最顶尖的10大半导体公司。Atrenta为Early Design Closure提供业界最全面的解决方案。垂询详情，请访问www.atrenta.com。Atrenta，从一开始就这样！（Atrenta, Right from the Start!）

Atrenta、Atrenta标识、SpyGlass和Early Design Closure是Atrenta Inc.的注册商标。所有其它标识为其各自所有者拥有。

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