圣地亚哥--(美国商业资讯)--Filmetrics已宣布在互联网上公开用于测量薄膜厚度的最完整的折射指数值数据库并提供免费的折射指数测量服务。如果每种被测量的材料没有精确的折射指数值，则基于光学的厚度测量是不准确的，甚至无法测量。
新数据库和测量服务具有广泛的应用范围，其中包括在半导体、太阳能、显示屏和生物医学等许多领域。Filmetrics公司总裁Scott Chalmers博士称："第一周内，我们的数据库平均每天在线访问量超过200人次。这表明许多人在工作中需要这些资料。"
Filmetrics仪器通过使用白色光照亮薄膜并测量薄膜反射的光谱来确定薄膜厚度。波长范围在200-1700纳米之间。收集到光谱后，Filmetrics软件对其进行分析，然后确定厚度、光学常数及其他用户可选参数。
网址：http://www.filmetrics.com/refractive-index-database
关于Filmetrics
凭借多年薄膜厚度测量的经验和遍布全球的技术支持中心，Filmetrics提供了简单易用的仪器和无可比拟的支持。总部位于加利福尼亚州圣地亚哥，Filmetrics拥有全系列薄膜厚度测量系统，并不断开发更有效的薄膜测量新产品和技术。Filmetrics成立于1995年，并迅速奠定了台式薄膜测量行业的领导地位。
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